1. Reliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC interconnects
پدیدآورنده : John Lau
کتابخانه: كتابخانه دانشگاه صنعتی اروميه (آذربایجان غربی)
موضوع : Interconnects (Integrated circuit technology), Reliability,Green technology, Reliability,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Optoelectronics, bisacsh
رده :
TK
,
7874
.
53
,.
L38
,
2011
2. Reliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC interconnects
پدیدآورنده : Lau, John H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Reliability ، Interconnects )Integrated circuit technology(,Reliability ، Green technology
رده :
TK
7874
.
53
.
L38
2011
